Минералогия, петрография, геология – разделы науки, работающие с образцами горных пород, минералов, шлифов и аншлифов материалов. В этих областях применяются поляризационные микроскопы, электронные микроскопы и стереоскопические микроскопы.
Поляризационные микроскопы для петрографии
При изучении шлифов и аншлифов материалов чаще всего используются поляризационные микроскопы. Они позволяют проводить наблюдение в проходящем свете (изучение прозрачных шлифов), и в отраженном свете (наблюдение аншлифов горных пород, обычно зафиксированных в эпоксидной смоле). Поляризационные микроскопы для петрографии позволяют работать в скрещеных николях – когда оптические плоскости поляризатора и анализатора перпендикулярны. Также некоторые системы обладают коноскопическим тубусом для наблюдения материалов в сходящемся свете с линзой Бертрана и компенсаторами для изучения интерференционной картины образца.
Поляризационные микроскопы с круглым столом и центрируемым револьвером объективов.
Основной особенностью поляризационного микроскопа является круглый поворотный стол, обеспечивающий поворот препарата для наблюдения изменения поляризационной картины.
Поляризационный микроскоп обязательно должен обладать центрируемым револьвером объективов с возможностью выставления точной соосности оптической оси объектива и оси вращения стола.
Стереомикроскопы для минералогии
При работе с минералами, ископаемыми, при разработке породы используются стереоскопические микроскопы (стереомикроскопы). Это устройства, позволяющие наблюдать минералы при небольшом увеличении – от 4-6 до 50-100 крат, при этом дают объемное изображение и прекрасный стереоэффект. Эти микроскопы используются для поиска дефектов и включений в алмазах, драгоценных камнях. Стереомикроскопы универсальны и позволяют проводить работу практически с любыми объектами. Стереомикроскопы позволяют также проводить пробоподготовку и контроль шлифования, или подготовки и напыления препарата под электронную микроскопию.
Электронные микроскопы для петрографии
Электронные микроскопы применяются в геологии и минералогии для изучения объектов в микронном и субмикронном разрешении. Это микроскопы, использующие в качестве источника излучения не видимый свет, а направленный пучок электронов. Пучок электронов производит в поверхностном и приповерхностном слое образца вторичные и обратно рассеянные электроны, которые детектируются специальными детекторами. Электронные сканирующие микроскопы бывают настольными и напольными. Оба варианта позволяют добиться высочайшего качества изображения, но разрешение настольных систем чуть ниже. В любом случае, даже использование настольного электронного микроскопа, к примеру Coxem EM30 позволит повысить уровень разрешения вашей лаборатории до 20-30 нм.
